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產(chǎn)品型號(hào)：DF-01
更新時(shí)間：2024-08-30簡(jiǎn)要描述：日本rikenkeiki 便攜式組合X射線分析儀 DF-01 1.XRD、XRF，同一點(diǎn)兩種分析。可以在同一點(diǎn)進(jìn)行 X 射線衍射 (XRD) 和 X 射線熒光 (XRF) 兩種類型的分析。換句話說(shuō)，可以從使用兩種不同測(cè)量方法獲得的數(shù)據(jù)中獲得高度準(zhǔn)確的信息。2.非破壞性、非接觸式便攜式分析設(shè)備。利用無(wú)損、非接觸的分析方法，我們可以分析那些限制移動(dòng)或出口的文物和文化資產(chǎn)……即使是所謂的“禁止
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本rikenkeiki 便攜式組合X射線分析儀 DF-01
特征
1.XRD、XRF，同一點(diǎn)兩種分析?？梢栽谕稽c(diǎn)進(jìn)行 X 射線衍射 (XRD) 和 X 射線熒光 (XRF) 兩種類型的分析。換句話說(shuō)，可以從使用兩種不同測(cè)量方法獲得的數(shù)據(jù)中獲得高度準(zhǔn)確的信息。
2.非破壞性、非接觸式便攜式分析設(shè)備。利用無(wú)損、非接觸的分析方法，我們可以分析那些限制移動(dòng)或出口的文物和文化資產(chǎn)……即使是所謂的“禁止帶出"，我們也可以進(jìn)行X射線衍射（XRD） ）和現(xiàn)場(chǎng)熒光分析（XRF）是可能的。
3.可以按原樣測(cè)量大型和不規(guī)則形狀的物體。被測(cè)物體的尺寸或形狀幾乎沒(méi)有限制。 即使被測(cè)物體較大或形狀不規(guī)則，也可以在不破壞或分割物體的情況下進(jìn)行X射線衍射（XRD）和X射線熒光（XRF）測(cè)量。
日本rikenkeiki 便攜式組合X射線分析儀 DF-01
特征
1.XRD、XRF，同一點(diǎn)兩種分析?？梢栽谕稽c(diǎn)進(jìn)行 X 射線衍射 (XRD) 和 X 射線熒光 (XRF) 兩種類型的分析。換句話說(shuō)，可以從使用兩種不同測(cè)量方法獲得的數(shù)據(jù)中獲得高度準(zhǔn)確的信息。
2.非破壞性、非接觸式便攜式分析設(shè)備。利用無(wú)損、非接觸的分析方法，我們可以分析那些限制移動(dòng)或出口的文物和文化資產(chǎn)……即使是所謂的“禁止帶出"，我們也可以進(jìn)行X射線衍射（XRD） ）和現(xiàn)場(chǎng)熒光分析（XRF）是可能的。
3.可以按原樣測(cè)量大型和不規(guī)則形狀的物體。被測(cè)物體的尺寸或形狀幾乎沒(méi)有限制。 即使被測(cè)物體較大或形狀不規(guī)則，也可以在不破壞或分割物體的情況下進(jìn)行X射線衍射（XRD）和X射線熒光（XRF）測(cè)量。
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