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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
產(chǎn)品型號：BLUEWAVE
更新時間：2024-11-06簡要描述：美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE 性能指標1.三激光，藍/紅，多探測器，多角度光學系統(tǒng)2.真藍光激光器（非LED）3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正Mie計算的算法4.測量范圍從0.01到2800微米5.干濕測量6.封閉的光路可確保對光學組件進行全面保護，幾乎不需要操作員干預(yù)
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標
1.三激光，藍/紅，多探測器，多角度光學系統(tǒng)
2.真藍光激光器（非LED）
3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正Mie計算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對光學組件進行全面保護，幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點
1.利用藍激光，低端范圍測量的分辨率得以提高，從而顯著提高了低于1微米的測量精度。
2.專有的修正Mie理論計算使用戶能夠準確測量其他粒度分析儀難以準確表征測量的非球形顆粒
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間
4.固定的撿測器可提供堅固的耐用性并確保光學系統(tǒng)的正確位置
5.小巧的占用面積減少了對寶貴實驗室空間的需求
美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標
1.三激光，藍/紅，多探測器，多角度光學系統(tǒng)
2.真藍光激光器（非LED）
3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正Mie計算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對光學組件進行全面保護，幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點
1.利用藍激光，低端范圍測量的分辨率得以提高，從而顯著提高了低于1微米的測量精度。
2.專有的修正Mie理論計算使用戶能夠準確測量其他粒度分析儀難以準確表征測量的非球形顆粒
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間
4.固定的撿測器可提供堅固的耐用性并確保光學系統(tǒng)的正確位置
5.小巧的占用面積減少了對寶貴實驗室空間的需求
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